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奧林巴斯olympus 45MG超聲波測厚儀

更新時間：2024-06-22

儀器型號：

簡要描述：

產(chǎn)品特性：奧林巴斯推出45MG超聲波測厚儀,奧林巴斯推出45MG超聲波測厚儀,奧林巴斯45MG超聲波測厚儀,奧林巴斯推出45MG超聲波測厚儀

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奧林巴斯推出45MG超聲波測厚儀

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產(chǎn)品簡介：45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。

45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測厚應用。


標準功能

45MG儀器在使用基本配置時，是一款易懂易學、操作簡便的測厚儀，操作人員經(jīng)過zui基本的培訓，就可完成zui常用的測厚應用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后，就會變成一款極為高級的測厚儀，可以進行典型的初級儀器不能完成的應用。此外，大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。

  • 與所有Olympus雙晶探頭兼容，可對內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進行測量
  • zui小值/zui大值模式
  • 兩個報警模式
  • 差值模式
  • 時基B掃描
  • 縮減率
  • 增益調(diào)整（標準、高、低）
  • 密碼式儀器鎖定


帶有可選橡膠保護套和支架的45MG儀器

可選功能

只需幾次按鍵，即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途zui廣泛的測厚儀行列。

  • 回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。
  • 單晶： 這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷，進行非常精確的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
  • 單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
  • 數(shù)據(jù)記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
  • 帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描： 用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設(shè)置進行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應用中zui大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴展空白、*回波空白、范圍及延遲參數(shù)。

抵御惡劣環(huán)境的能力

  • 堅固耐用，設(shè)計符合IP67標準。
  • 爆炸性氣氛：可在國家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作，并且通過了美軍標準MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測試。
  • 防撞擊測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
  • 防振動測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
  • 寬泛的操作溫度范圍
  • 可選的帶有支架的橡膠保護套
 室內(nèi)A掃描顯示
室內(nèi)顯示設(shè)置，可選A掃描模式

簡便操作的設(shè)計理念

  • 可只用右手或左手操作的簡潔的鍵區(qū)
  • 可直接訪問大多數(shù)功能的簡便易行的操作界面
  • 使用內(nèi)置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡的存儲方式
  • USB通訊端口
  • 可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器
  • 默認或自定義單晶探頭設(shè)置（可選）
  • 密碼保護方式的儀器鎖定
  • 彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置，具有的清晰度

 


室外顯示設(shè)置，可選A掃描模式


45MG的技術(shù)規(guī)格

 

測量
雙晶探頭測量模式 從激勵脈沖后的精確延遲到*個回波之間的時間間隔。
自動回波到回波（可選） 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。
穿透涂層測量 （可選） 利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭）
單晶探頭測量模式（可選） 模式1：激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。
模式2：延遲塊回波與*個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭）
模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。
厚度范圍 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量zui全的范圍需要使用單晶選項）
材料聲速范圍 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs）
分辨率（可選擇） 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸）
標準分辨率：0.01毫米（0.001英寸）
單晶選項：0.001毫米（0.0001英寸）
探頭頻率范圍 標準：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
一般規(guī)格
操作溫度范圍 -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F）
鍵盤 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋
機殼 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密封。設(shè)計符合IP67標準。
外型尺寸（寬 x 高 x 厚） 總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm
重量 430.9克
電源 3節(jié)AA電池/USB電源供應
電池工作時間 3節(jié)AA堿性電池：20到21小時
3節(jié)AA鎳氫電池：22到23小時
3節(jié)AA鋰離子電池：35到36小時
標準 設(shè)計符合EN15317標準

 

顯示
彩色透反QVGA顯示 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米
檢波 全波、RF波、正半波、負半波（波形選項）

 

輸入/輸出
USB 2.0從接口
存儲卡 zui大容量：2 GB可插拔MicroSD存儲卡

 

內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器（可選）
數(shù)據(jù)記錄器 45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。
容量 475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形
文件名稱和ID編碼 32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼
文件結(jié)構(gòu) 6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結(jié)構(gòu)
報告 機載報告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和zui小值/zui大值

標準配置

  • 45MG數(shù)字式超聲測厚儀
  • AA堿性電池
  • 2階試塊和耦合劑
  • USB線纜
  • 用戶手冊，存于CD盤上
  • 測量功能：zui小值/zui大值模式、兩個報警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能

軟件選項

  • 45MG-SE （U8147022）：單晶選項，使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭
  • 45MG-HP （U8147023）：單晶高穿透選項，使用頻率范圍為0.5 MHz～30 MHz的單晶探頭
  • 45MG-EETC （U8147021）：回波到回波和穿透涂層
  • 45MG-WF （U8147019）：波形選項
  • 45MG-DL （U8147020）：內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器，包含GageView接口程序

選購附件

  • MICROSSD-ADP-2GB （U8779307）： 2 GB外置MicroSD存儲卡
  • 45MG-RPC （U8779676）： 帶支架的橡膠保護套


45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途zui廣泛的測厚儀行列。

  • 回波到回波/穿透涂層
  • 單晶
  • 單晶高穿透
  • 數(shù)據(jù)記錄器
  • 帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描

回波到回波/穿透涂層選項

回波到回波

測厚儀使用多個底面回波，顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：

  • 自動回波到回波
  • 手動回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項），可進行以下操作：
    • 增益調(diào)整
    • 擴展空白
    • 回波空白

穿透涂層技術(shù)

 

使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要得到金屬的厚度，無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。 D7906

 

 

 

自動回波到回波模式
顯示A掃描的自動回波到回波模式		 穿透涂層模式
顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項未被激活）
手動回波到回波
調(diào)整*個回波空白的手動回波到回波模式
顯示可選波形的穿透涂層模式

 

 

 

 

用戶使用單晶軟件選項，可以完成分辨率高達0.001毫米或0.0001英寸的極為精確的厚度測量。可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

  • 大多數(shù)薄材料和厚材料
  • 壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
  • 壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機加工部件
  • 汽缸孔、渦輪葉片
  • 玻璃燈泡、瓶子
  • 薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料
  • 曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器

 

用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。這個選項包含單晶選項。

  • 大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強的材料
  • 厚鑄造金屬部件
  • 厚橡膠輪胎、履帶
  • 玻璃纖維船體、儲存罐
  • 復合材料板
  • 對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米（0.001英寸）

 

45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)記錄器選項包含GageView接口程序。

數(shù)據(jù)記錄器選項

  • 內(nèi)置存儲容量為475000個厚度讀數(shù)，或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形。
  • 32位字符的文件名稱
  • 20位字符的ID#（TML#）編碼
  • 6個文件格式：遞增型、序列型、帶自定義點的序列型、兩維柵格、鍋爐型及通過GageView在PC機上手動創(chuàng)建的文件格式
  • 內(nèi)置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡
  • 可以在內(nèi)置和可插拔MicroSD存儲卡之間拷貝文件
  • 標準型USB通訊
  • 單晶探頭設(shè)置的雙向傳輸
  • 機載統(tǒng)計報告
  • 機載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色
  • GageView接口程序可與45MG儀器通訊，方法是：
    • 通過USB端口
    • 讀取MicroSD存儲卡上的數(shù)據(jù)，或在存儲卡上寫入信息
  • 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式或.txt格式，直接導出到MicroSD存儲卡


在PC機上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。

測量報告
可以方便地生成并打印包含測量值、ID編碼及其它參數(shù)的測量報告。

 

機載數(shù)據(jù)庫柵格視圖
機載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色

GageView 接口程序

  • 包含在數(shù)據(jù)記錄器選項中
  • 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自45MG測厚儀的數(shù)據(jù)
  • 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)
  • 編輯所存數(shù)據(jù)
  • 顯示數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)文件。文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值
  • 從測厚儀上下載厚度測量總結(jié)，或上傳厚度測量總結(jié)至測厚儀
  • 將測量總結(jié)導出到電子表格及其它程序
  • 收集捕獲的屏幕
  • 打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計及彩色柵格的報告
  • 升級45MG軟件
  • 下載和上傳單晶探頭設(shè)置文件

B掃描屏幕
在PC機上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。

 

 

 

用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設(shè)置進行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應用中zui大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴展空白、*回波空白、范圍及延遲參數(shù)。


  • 雙晶探頭，用于腐蝕測厚操作

  • 單晶探頭，用于精確厚度測量

 

所有標準雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每個特定探頭自動調(diào)用默認V聲程校正。

 

探頭 工件編號 頻率（MHz） 連接器 端部直徑mm（in.） 范圍（鋼）*mm（in.） 溫度范圍** °C （°F） 線纜 工件編號
D790 U8450002


5.0

 平直

 

11.00
（0.434）

 

1.00 to 500.00
（0.040 to 20.000）


-20 to 500
（-5 to 932）

 密封 ¯
D790-SM U8450009 平直 LCMD-316-5B† U8800353
D790-RL U8450007 90° LCLD-316-5G† U8800330
D790-SL U8450008 平直 LCLD-316-5H U8800331
D791 U8450010

5.0

 90° 11.00
（0.434）		 1.00～500.00
（0.040～20.000）		 -20～500
（-5～932）		 密封 ¯
D791-RM U8450011 5.0 90° 11.00
（0.434）		 1.00～500.00
（0.040～20.000）		 -20～400
（-5～752）		 LCMD-316-5C U8800345
D792 U8450012 10 平直 7.20
（0.283）		 0.50～25.00
（0.020 to 1.000）		 0～50
（32～122）		 密封 ¯
D793 U8450013 90° 密封 ¯
D794 U8450014 5.0 平直 7.20
（0.283）		 0.75～50.00
（0.030～2.000）		 0～50
（32～122）		 密封 ¯
D797 U8450016 2.0 90° 22.90
（0.900）		 3.80～635.00
（0.150～25.000）		 -20～400
（-5～752）		 密封 ¯
D797-SM U8450017 平直 LCMD-316-5D U8800355
D7226 U8454013 7.5 90° 8.90
（0.350）		 0.71～100.00
（0.028～4.000）		 -20～150
（-5～300）		 密封 ¯
D798-LF U8450019
D798 U8450018 7.5 90° 7.20
（0.283）		 0.71～100.00
（0.028～4.000）		 -20～150
（-5～300）		 密封 ¯
D798-SM U8450020 平直 LCMD-316-5J U8800357
D799 U8450021 5.0 90° 11.00
（0.434）		 1.00～500.00
（0.040～20.000）		 -20～150
（-5～300）		 密封 ¯
MTD705 U8620225 5.0 90° 5.10
（0.200）		 1.00～19.00
（0.040～0.750）		 0～50
（32～122）		 LCPD-78-5 U8800332
D7906-SM†† U8450005 5.0 平直 11.00
（0.434）		 1.00～50.00
（0.040～2.000）		 0～50
（32～122）		 LCMD-316-5L U8800358
D7906-RM†† U8450025 90° LCMD-316-5N U8800647
D7908 U8450006 7.5 90° 7.20
（0.283）		 1.00～37.00
（0.040～1.500）		 0～50
（32～122）		 密封 ¯
*厚度范圍取決于材料、探頭類型、表面條件和溫度。 †可提供不銹鋼線纜；欲查詢詳情，請與Olympus NDT。
**zui高溫度下，僅使用間歇接觸。 ††使用穿透涂層技術(shù)的探頭。

單晶探頭，用于精確厚度測量

接觸式探頭

 

 

 

頻率 晶片直徑
探頭
工件編號
mm in.
0.5 25 1.00 M101-SB* U8400017
1.0 25 1.00 M102-SB* U8400018
1.0 13 0.5 M103-SB* U8400020
2.25 13 0.5 M106-RM U8400023
M106-SM U8400025
2.25 13 0.5 M1036 U8400020

5.0

 13 0.5 M109-RM U8400027
M109-SM U8400028
5.0 6 0.25 M110-RM U8400030
M110-SM
M110H-RM**		 U8400031
U8400029
10 6 0.25 M112-RM
M112-SM		 U8400034
U8400035
U8400033
M112H-RM** U8400033
10 3 0.125 M1016 U8400015
20 3 0.125 M116-RM U8400038
M116-SM U8400039
20 3 0.125 M116H-RM** U8400037

*這些探頭只能與高穿透軟件選項一起使用。
**需使用彈簧加載支架。

Sonopen 探頭

Sonopen探頭的延遲塊可以更換，其端部為錐形，可接觸到極其狹窄的區(qū)域。這種探頭可以在測量渦輪葉片厚度及塑料容器的內(nèi)圓角的厚度等應用中提供可靠的厚度讀數(shù)。

Sonopen - 15 MHz，3 mm（0.125 in.）探頭

 

平直手柄 直角手柄 45°手柄
工件 工件
編號		 工件 工件
編號		 工件 工件
編號
V260-SM U8411019 V260-RM U8411018 V260-45 U8411017

Sonopen - 可替換的延遲塊

*直徑 工件 工件
編號
mm in.
2.0 0.080 DLP-3 U8770086
1.5 0.060 DLP-302 U8770088
2.0 0.080 DLP-301† U8770087

†高溫延遲，可用于高達175°C的溫度。

水浸探頭

Panametrics Microscan水浸探頭的設(shè)計目的是在水中傳播并接收超聲波。當被測樣件的幾何形狀較為復雜或進行在線檢測時，通過水浸技術(shù)獲得的厚度讀數(shù)通常更為可靠。典型的離線應用包含對小直徑塑料或金屬管件的壁厚測量，掃查或旋轉(zhuǎn)測量，以及對大幅彎曲的樣件進行的厚度測量。在某些應用中可能需要探頭觸及到極其狹小的區(qū)域。

 

頻率
（MHz）		 晶片直徑
探頭


工件編號
mm in.
2.25 13 0.50 M306-SU U8410027
5.0 13 0.50 M309-SU U8420001
5.0 6 0.25 M310-SU U8420004
10 6 0.25 M312-SU U8420008
15 6 0.25 M313-SU U8420009
20 3 0.125 M316-SU U8420011

 

RBS-1水浸箱

RBS-1水浸箱的設(shè)計目的是簡化利用水浸技術(shù)的超聲測厚操作。

延遲塊探頭

Microscan延遲塊探頭可在測量極薄材料，溫度*，或要求*厚度分辨率的應用中，發(fā)揮的測量性能。

 

頻率
（MHz）		 晶片
直徑
探頭


工件
編號
支架
工件
編號
mm in.
0.5 25 1.00 M2008* U8415001 - -
2.25 13 0.50 M207-RB U8410017 - -
5.0 13 0.50 M206-RB U8410016 - -
5.0 6 0.25 M201-RM U8410001 - -
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